Курсовая Аналитический контроль в технологии материалов и изделий электронной техники. Определение хрома в сплавах, номер: 211576

"Содержание

Введение 2
1 Анализ хрома и его сплавов 3
1.1 Характеристика хрома и его сплавов 3
1.2 Аналитический контроль 8
2 Определение хрома в сплавах 12
2.1 Титрометрический метод определения хрома в сплавах 12
2.2 Определение хрома в сплавах с помощью органических реагентов 16
2.3 Методы определения хрома в сплавах на медной основе 19
Заключение 22
Список литературы 23

Список литературы

1 Барыбин А. А., Сидоров В.Г. Физико-технологические основы электроники. - СПб.: Лань, 2001. - 268 с.
2 Бокий Г.Б. Рентгеноструктурный анализ. В 2-х т.Т.1 / Г.Б. Бокий, М.А. Порай – Кошиц. - М.: МГУ, 1964. – 490 с.
3 Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учеб. Пособие: пер с англ. / Д. Брандон, У. Каплан. – М.: Техносфера, 2004. – 377 с.
4 ГОСТ 26473.10-85. Сплавы и лигатуры на основе ванадия. Методы определения хрома и ванадия [Электронный ресурс] - http://docs.cntd.ru/document/gost-26473-10-85
5 Методы и средства контроля. Определение элементного состава вещества: Метод. указания / Сост. Н.Г. Внукова, Г.В. Бондаренко, Г.Н. Чурилов. - Красноярск: ИПЦ КГТУ. 2005. –35 с.
6 Миркин Л.Н. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов - М. : Гос. Изд. Физ.-мат. л-ры, 1961. - 863 с.
7 Морис, Ф. Микроанализ и растровая электронная микроскопия / Ф. Морис, Л. Мени, Р. М. Тиксье. - М.: Металлургия , 1985. - 392 с.
8 Орликов Л. Н.Технология материалов и изделий электронной техники: учебное пособие, Ч. 2 – Томск: Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, 2012 – 101 с.
9 Пантелеев В.Г. Мир материалов и технологий. Компьютерная микроскопия/ В.Г. Пантелеев, О.В. Егоров, Е.И. Клыкова. - М.: Техносфера, 2005. – 304 с.
10 Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный анализ. Аппаратура, принцип работы, применение. / Сост. Ю. А. Быков, С. Д. Карпухин, М. К. Бойченко и др. Электр. Дан. - М.: МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2003.
11 Рентгенофазовый анализ порошковых образцов: Метод. указания по лабораторной работе для студентов ИФФ / Сост. Г.Н. Чурилов, Н.Б. Булина, А.В. Кравченко. - Красноярск: КГТУ.2000. – 24с.
12 Степин В.В., Силаева Е.В., Курбатова В.И., Ханова Т.Ф., Барбаш Т.Л., Поносов В.И. Анализ цветных металлов и сплавов – М.: Металлургия, 1965 – 188 с.
13 Таиров, Ю.М. Технология полупроводниковых и диэлектрических материалов. - СПб.: Лань, 2002. - 423с.
14 Татаева С.Д., Абакарова Д.А. Патент способ определения хрома в сплавах. Класс МПК-8 G01N21/78 Дата подача заявки: 1995-06-28, дата публикации патента: 10.08.1997 [Электронный ресурс] - http://www.freepatent.ru/patents/2086962
15 Темных, В. И. Просвечивающая и растровая электронная микроскопия: Лабораторный практикум. / В. И. Темных, Г. М. Зеер, Е. М. Артемьев и др. - Красноярск: ИПЦ КГТУ, 2005. - 91 с.
16 Уманский, Я. С. ристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. / Я. С. Уманский, Ю. А. Скаков, А. Н. Иванов, и др. - М.: Металлургия, 1982. - 427 с.
17 Физическое металловедение. Т.3. Физико-механические свойства металлов и сплавов. Под ред. рист. – М.: Металлургия, 1987.– 663с.
18 Холодкова, Н. В., Шикова Т.Г. Технология материалов электронной техники : лаб. практикум / Н. В. Холодкова, Т. Г. Шикова ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Иван. гос. хим.-технол. ун-т. - Иваново : ИГХТУ, 2013. - 181 с.
19 Шелованова, Г. Н. Материаловедение и материалы электронных средств. : Метод. указ. По лаб. работам / Г.Н. Шелованова ; Краснояр. Гос. Техн. Ун-т. – Красноярск: ИПЦ КГТУ, 2003. – 55 с.
20 Энгель, Л., Растровая электронная микроскопия. Разрушение / Л. Энгель, Г. Клингеле - М.: Металлургия, 1986.
"